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        掃描電鏡

        首頁 > 產品中心 > 掃描電鏡 > FEI掃描電鏡Verios XHR SEM

        產品參數

        產品編號: Verios XHR SEM所屬品牌: ??怂箍?/a>
        產品型號: Verios XHR SEM 額定功率:按實際方案提供
        應用領域: 所有工業領域
        產品特性: FEI掃描電鏡Verios XHR SEM是 FEI 的 XHR(極高分辨率)SEM 系列的第二代產品.在半導體制造和材料科學應用中,它可在 1 至 30 kV 范圍內提供亞納米量級分辨率以及增強的對比度,滿足材料精密測量所需.

        FEI掃描電鏡Verios XHR SEM

        Verios 是 FEI 的 XHR(極高分辨率)SEM 系列的第二代產品。在半導體制造和材料科學應用中,

        它可在 1 至 30 kV 范圍內提供亞納米量級分辨率以及增強的對比度,

        滿足材料精密測量所需,同時又不會削弱傳統掃描電子顯微鏡 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、樣本靈活性和易用性等優勢。

         

        Verios 的材料科學應用


        對材料科學家來說,Verios 可以將亞納米表征拓展到當下正在開發的全新材料

        (例如催化劑顆粒、納米管、孔隙、界面、生物對象和其他納米量級結構),

        從而讓他們獲得重要的新發現。無需轉而采用 TEM 或其他成像技術便可獲得高分辨率、高對比度圖像。

        Verios 可靈活用于各類研究應用,能夠容納全尺寸晶圓或冶金樣本之類的大樣本。

        您可以在高電流模式下執行快速分析,也可以開展精確的原型設計應用,

        例如電子束感應式材料直接沉積或光刻

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