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        掃描電鏡

        首頁 > 產品中心 > 掃描電鏡 > 日本電子JSM-IT510 InTouchScope? 掃描電子顯微鏡

        產品參數

        產品編號: 所屬品牌: 日本電子
        產品型號: JSM-IT510 InTouchScope? 額定功率:按實際方案提供
        所屬類別: 掃描電鏡所屬用途: 顯微觀察
        應用領域: 所有工業領域
        產品特性:

        日本電子JSM-IT510 InTouchScope? 掃描電子顯微鏡

        掃描電子顯微鏡 (SEM) 不僅是開展科研工作所必不可少的工具,對于需要品控的制造工廠也是不可或缺的。 在這些場景中,用戶需要重復執行相同的觀察操作,因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 JSM-IT510 新增的“簡單 SEM”功能,用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復操作交給它”,從而更有效、更輕松地完成 SEM 觀察。

         

        NEW  簡單 SEM

        只需選擇目標視野

        “簡單 SEM”支持日常工作

        樣品:電子元件  
        加速電壓:15 kV,放大倍數:×50(上部) ×1,000(下部),信號: BE


                                                                                                             

                                                                                                                                                                                        樣品交換導航

                                                                                                                                                                                        從樣品交換引導至自動觀察   安全簡單!

        1. 按照導航指南設置樣品

                                                                              測量樣品高度

         

        2. 準備抽真空觀察

        *1樣品臺導航系統(SNS)是選配件

        *2大區域樣品臺導航系統(SNSLS)是選配件

        *3樣品室相機(CS)是選配件

         

        3. 自動開始觀察

        真空完成后自動成像

        Zeromag

        輕松實現光學圖像與SEM圖像之間的無縫轉換

        Zeromag 功能簡化了導航,提供從光學圖像到 SEM 圖像的無縫過渡。 

         SEM、光學圖像和樣品臺示意圖全部鏈接在一起,以獲得分析位置的全局視圖。

        樣品:菊石化石    加速電壓:7kV   信號:BE

        實時分析/實時引導圖*2

        1. SEM觀察的同時掌握該區域的元素組成

        實時分析是一項在圖像觀察期間實時顯示 EDS 光譜或元素圖的功能。此功能支持搜索目標元素并提供警示。 

         

        2. 簡單分析

        最多點擊3次即可開始EDS分析

        多種高級選項

        1. NEW 低真空混合二次電子探測器(LHSED)*

        該新型探測器可以收集電子和光子信號,并提供具有高信噪比和增強形貌信息的圖像

         

        2. NEW  實時3D*

        新多向分割BE探測器*獲得的圖像可以顯示為實時3D圖像。

        即使樣品具有細微的表面起伏,實時3D也可以直觀的將其清晰的表現出來,并獲取其深度信息。

        樣品:螺釘    加速電壓:15kV   放大倍數:x100  信號:BE

        3. 蒙太奇

        蒙太奇功能可以自動獲取多個小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。

        樣品:菊石化石

        加速電壓:15kV    放大倍數:x150   信號:BE   視野數:13 x 13

         

        4. 顯示信號深度

        此功能實時顯示被測樣品的分析深度(近似數值),對元素分析非常有用。

        SEM規格

        分辨率 高真空模式:3.0nm(30kV),15.0nm(1.0kV);低真空模式:4.0nm(30kV、BED)
        放大倍數  x5 至 x300,000
        電子槍 鎢燈絲,全自動電子槍調準
        加速電壓 0.3kV~ 30kV
        探針電流 1pA~1uA
        LV壓力調節 10~650Pa
        物鏡光闌 4檔,帶XY微調功能
        自動功能 燈絲飽和點調整、電子槍合軸調整、電子束對中調整、聚焦/散光/亮度/襯度調整
        最大樣品尺寸 200mm直徑 x 75mm高
        樣品臺 大型全對中樣品臺  X: 125mm  Y:100mm  Z:80mm  傾斜:-10~90°  旋轉:360°
        圖像模式 二次電子像、REF像、成分像、形貌像、陰影像
        圖像尺寸 640 x 640、1280 x 960、 2560 x 1920、 5120 x 3840
        照片輔助功能 蒙太奇、簡單SEM、Zeromag、實時3D
        操作支持功能 菜單(標準菜單/自定義菜單),測量、樣品交換導航、信號深度功能、3D測量*
        操作系統 Win10 64位
        顯示器 23.8英寸觸控面板
        語言切換 日語、英語、中文(可在用戶界面上操作)
        真空系統 全自動、TMP、RP

         

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